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SPECTRO XEPOS

  • Détermination de Na-U dans des échantillons complètement inconnus, dans toutes matrices
  • La configuration unique de l'optique offre des performances WD-XRF au prix de l’ED-XRF
  • Kits d'applications « plug-and-play »
  • Grande surface, haute résolution, détecteur à dérive au silicium pour une sensibilité inégalée
  • Utilisation aisée et changeur d'échantillon pour 8 (avec l'option de fileur), 12 ou 25 échantillons

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Analyse ED-XRF avec des performances exceptionnelles

Le nouveau spectromètre SPECTRO XEPOS marque un saut quantique dans la technologie de fluorescence des rayons X par analyse dispersive en énergie. Il réalise des avancées décisives dans l'analyse multi-élémentaire de concentrations d'éléments majeurs, mineurs et traces. Les nouvelles évolutions en matière d'excitation et de détection offrent une sensibilité et des limites de détection exceptionnelles, ce qui génère des gains remarquables sur le plan de la précision et de l’exactitude.

Analyses de dépistage et contrôles de qualité
L'incroyable SPECTRO XEPOS excelle dans les tâches critiques, de l'analyse rapide du dépistage au contrôle précis de la qualité des produits. Utilisez-le pour le traitement « at-line » dans plusieurs industries, pour la géologie et l'exploitation minière, pour la surveillance de l'environnement et des déchets, ainsi que pour la recherche et les universités.

Configurations
Différentes versions maximisent les performances pour les groupes élémentaires sélectionnés dans des matrices spécifiques. Un tube à rayons X innovant et une nouvelle technologie d'excitation adaptative unique apportent la sensibilité la plus élevée possible, optimisée pour cibler les éléments choisis.

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Caractéristiques

Caractéristiques

Excitation
X-ray tube with thick binary Pd/Co alloy anode with air-cooling
Max. power: 50 W
Max. voltage: 50 kV (60 kV in XEPOS HE)
Adaptive excitation system with optimized filters
HAPG polarizer for improved sensitivity of elements in the range Na-Cl (in XEPOS C, P, HE)
Bandpass filter for improved performance for elements in the range K-Mn (in XEPOS P, HE)

Detection
SDD with Peltier cooling
Large detector area (30 mm2, active area 20 mm2)
Spectral resolution (FWHM) ≤ 130 eV for Mn K-alpha
Input count rate up to 1,000,000 counts per second
Detector filter changer for active pile-up reduction (optional in XEPOS P, standard in XEPOS HE)

Environmental Conditions
Room temperature: 10-35 °C (50-95 °F)

Dimensions
465 (H) x 618 (W) x 730 (D) mm

Weight
approx. 65 kg

Electrical Requirements
90 – 253 VAC; 50/60 Hz
16 A (slow blow fuse)
Approx. 1200 W power consumption

Options disponibles

Options disponibles

Sample handling options
Sample tray with 12 positions for samples with diameters of 32
or 40 mm
Sample tray with 25 positions for samples with diameter 20 mm
Sample spinner (for 40 mm samples), recommended for all versions,
standard for XEPOS HE
Sample tray for sample spinning with eight positions (for 40 mm samples)
Analysis in He atmosphere or in vacuum

Application package options
TurboQuant II screening
Fundamental parameters method
Packages for various applications (e.g., oil, cement)
Customer specific application packages available on request

Helium Supply Requirements
Consumption: Typical 4.5 l per sample analysis

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